《集成电路FT测试》是集成电路技术专业的一门专业拓展课程。本课程的先修课程有《集成电路测试原理》、《集成电路测试方案设计》和《C语言程序设计》等为先修课程。该课程使用基于爱德万V93000测试设备,介绍SmarTest测试软件的操作、测试程序的编写和调试、测试结果的分析和处理。课程设置目的是让学生熟悉集成电路测试设备使用和测试程序的开发流程,熟练掌握SmarTest测试软件的操作、测试程序的编写和调试、测试结果的分析和处理,使学生对集成电路测试的方法更深入的理解。
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Overview
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Syllabus
- 课程导学
- 项目一:V93000概述
- 任务1.1:概述
- 任务1.2:硬件概览
- 任务1.3:软件概览
- 项目二:测试工程概览
- 任务2.1:smartest工程
- 任务2.2:DUT测试板描述文件
- 任务2.3:测试程序文件
- 任务2.4:测试程序的组成模块
- 项目三:编辑测试流
- 任务3.1:测试流和测试项
- 任务3.2:操作序列
- 项目四:编辑测试参数
- 任务4.1:仪器
- 任务4.2:电平和时序设置基础
- 任务4.3:规格文件–数字设置
- 任务4.4:规格文件–多域
- 任务4.5:测试模式(向量集)
- 项目五:测试流的执行
- 任务5.1:动作, 模式和业务序列调用
- 任务5.2:测试流文件
- 任务5.3:测试程序执行和调用
- 项目六:测试方法
- 任务6.1:测试方法介绍
- 任务6.2:测试方法–基础
- 任务6.3:测试方法–多站点类型
- 任务6.4:测试方法–结果访问
- 任务6.5:测试方法–设置文件生成
- 任务6.6:测试方法–输入与输出参数
- 项目七:测试结果
- 任务7.1:数据记录
- 任务7.2:Binning
- 任务7.3:测试表格
- 任务7.4:表征工具
- 期末考试
Taught by
Wang Haichao