本课程主要讲授材料分析测试技术的基本概念、基本原理及其在材料分析中的应用,主要内容包括 X射线衍射分析、透射电子显微分析、扫描电子显微分析和电子探针显微分析。材料分析测试技术是材料类学科的必修基础课之一,本课程在学习基本概念和基本原理的基础上,适当增加了和实验操作相关的内容,并结合示例展示了材料分析测试技术在材料研究中的应用。
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Syllabus
- 1.课程介绍
- 2.X射线的本质
- 2.1 X射线的本质
- 2.2 X射线的产生
- 2.3 X射线谱之连续谱
- 2.4 X射线谱之特征谱
- 2.5 X射线与物质的相互作用
- 3.X射线衍射方向
- 3.1 晶体几何学基础(上)
- 3.2 晶体几何学基础(下)
- 3.3 倒易点阵
- 3.4 布拉格方程
- 3.5 X射线衍射方法
- 4.X射线衍射强度
- 4.1 X射线衍射强度
- 4.2 结构因子的计算
- 4.3 多晶X射线的衍射强度
- 5.多晶体分析方法
- 5.1 X射线衍射仪
- 5.2 实验参数与样品制备
- 6.X射线物相分析
- 6.1 物相分析(上)
- 6.2 物相分析(下)
- 7.电子光学基础
- 7.1 电子波与电磁透镜
- 7.2 电磁透镜的像差与分辨率、景深和焦长
- 8.透射电子显微镜
- 8.1 透射电镜的结构与成像原理
- 8.2 透射电镜的主要部件以及分辨率和放大倍数的测定
- 9.复型技术
- 9.1 复型方法分类
- 9.2 质厚衬度原理与粉末样品的制备
- 10.电子衍射
- 10.1 电子衍射原理
- 10.2 电子显微镜中的电子衍射及其标定
- 11.晶体薄膜衍衬成像分析
- 11.1 薄膜样品的制备与衍衬成像原理
- 11.2 衍衬运动学与晶体缺陷分析
- 12. 扫描电子显微分析
- 12.1 扫描电镜简介
- 12.2 电子束与固体样品作用时产生的信号
- 12.3 扫描电镜的构造与工作原理
- 12.4 扫描电镜的主要性能参数
- 12.5 表面形貌衬度原理及其应用
- 12.6 原子序数衬度及其应用
- 12.7 扫描电镜样品制备
- 13.电子探针显微分析
- 13.1 电子探针仪的结构和工作原理
- 13.2 波谱仪的结构和成分分析原理
- 13.3 能谱仪的结构和成分分析原理
- 13.4 电子探针的分析方法及应用
- 期末考试
Taught by
Weibin Xie, Yinghui Zhang, and Jian Lv